Manfred Grasserbauer

• Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie AES Auger-Elektronen-Spektrometrie XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie
• Angewandte Oberflächenanalyse Mit SIMS, AES und XPS