Readfeed

Andreas Tulke

  • Elektronenspektroskopische Untersuchung von Antimon-, Arsen- und Phosphor-Schichten auf III-V-HalbleiteroberflächenElektronenspektroskopische Untersuchung von Antimon-, Arsen- und Phosphor-Schichten auf III-V-Halbleiteroberflächen