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Klaus-Peter Brieger

  • Untersuchungen an pin-dioden im hochstrombereich zur bestimmung der trägerlebensdauer, der H-parameter, der summe der beweglichkeiten sowie der mittleren ladungsträgerkonzentrationUntersuchungen an pin-dioden im hochstrombereich zur bestimmung der trägerlebensdauer, der H-parameter, der summe der beweglichkeiten sowie der mittleren ladungsträgerkonzentration